Responsables scientifiques : Nordin Felidj ; responsable technique : Xiaonan Sun

Le service de microscopies en champ proche est ouvert aux chercheurs, thésards et stagiaires du laboratoire. Il est principalement utilisé pour des études sur la caractérisation morphologique de nanoparticules lithographiques, de dépôts colloïdaux, de matériaux en grains fins, de couches minces organiques ou de matériaux massifs ayant subi des traitements de surface. Il permet également d’effectuer de l’imagerie STM à bas courant. Le microscope offre, pour l’imagerie topographique, les modes opératoires standards suivants : modes contact et Tapping. En particulier, en vue de protéger au mieux l’état de surface des échantillons fragiles, le mode Tapping, qui présente depuis peu des améliorations en vue de minimiser au maximum les forces d’interaction entre la pointe du microscope et la surface de l’échantillon. La présence d’un mode force, avec une fonction permettant un contrôle automatique des paramètres de gains, vitesse de balayage et de tension de consigne, permet d’apporter des informations spectroscopiques.